一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
常溫BIT測(cè)試?yán)匣?/span>是用于固態(tài)硬盤（SSD）常溫讀寫測(cè)試（BurnInTest，BIT）的試驗(yàn)設(shè)備，老化柜可以提供固態(tài)硬盤運(yùn)行所需要的穩(wěn)定溫度，為BIT測(cè)試提供保障。

二、滿足標(biāo)準(zhǔn)：
YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的固態(tài)硬盤測(cè)試規(guī)范
JEDEC 218

三、技術(shù)參數(shù)：

四、產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、根據(jù)不同的要求提供測(cè)試電腦配置。
2、機(jī)柜采用1.0冷軋鋼板，外部烤漆處理，堅(jiān)實(shí)耐用，美觀大方。
3、每層電腦采用抽屜式擺放，方便電腦散熱和后期維護(hù)。
4、機(jī)柜頂部配有220V散熱風(fēng)扇，背板為高密度六角單開(kāi)網(wǎng)孔門，通風(fēng)率≥75%，門和側(cè)板為可拆卸式結(jié)構(gòu)，保證測(cè)試電腦運(yùn)行環(huán)境良好。
5、機(jī)柜底部有萬(wàn)向輪和固定腳杯，方便移動(dòng)設(shè)備。

五、測(cè)試要求：
SSD測(cè)試在實(shí)驗(yàn)室常溫40℃的環(huán)境下進(jìn)行的BIT測(cè)試，根據(jù)JEDEC 218的要求，整個(gè)測(cè)試過(guò)程所需要的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)為1000h，在剛啟動(dòng)開(kāi)始測(cè)試時(shí)，BMC通過(guò)MI協(xié)議獲取的SSD的NAND溫度值為40℃左右，當(dāng)測(cè)試時(shí)長(zhǎng)達(dá)到1000小時(shí)，NVME SSD就完成了在常溫環(huán)境下進(jìn)行BIT的測(cè)試。